硬件简介：
硬件设计先进，按照Q/01RZ01-2004标准生产，元器件专业制造，性能稳定可靠，无易损配件。
激光粒度测量仪技术参数：
1、测量范围：0.1~600微米
2、准确性误差：<±1%（国家标准物质D50）
3、重复性偏差：<±1%（国家标准物质D50）
4、电气要求：交流220±10V，50Hz, 200W
5、外观尺寸：1000×330×320mm
6、重量：38KG
激光粒度测量仪工作原理：
Rise-2002型激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。
颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差， 从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。
无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。Rise-2002型激光粒度分析仪采用*的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。
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