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X射线无损测厚仪应用说明

采购类型:
  • 价格要求: 电议
  • 采购数量:大量
  • 包装要求:无要求
  • 采购情况:长期有效
  • 所在地:上海
  • 发布日期:2023-04-28 14:10
  • 信息有效期: 长期有效
采购商信息
  • 会员类型:企业会员
采购信息描述
  • 所在地:上海
  • 有效期至:长期有效
  • 浏览次数:62
X射线无损测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器,其探测器分辨率低为139eV,处于水平;产品采用上照式设计,多重防辐射保护装置以及X射线发生器,使辐射剂量符合国际规定;样品观察系统采用CCD、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的测厚分析软件,各项指标均符合相关技术要求,技术达水平。

XRF2000镀层测厚仪主要应用于金属镀层银的测试,同时可以测试镀金、镀镍、镀锡、镀锌、镀铜、镀铑、镀钯、二元合金镀层等,整个过程全部通过电脑来操作,实现“傻瓜”式操作模式,简单的培训既可以进行操作,整个仪器测试基本没有耗材,降低了后期的使用成本。

应用行业:
1、电子半导体行业接插件和触点的厚度测量。
2、印刷线路板行业功能镀层厚度测量。
3、***属首饰手表行业镀层厚度测量。
4、五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量。

更多产品信息来源:http://www.sh-jcx.com/fan2009-SonList-1090835/
https://www.chem17.com/st253946/erlist_1090835.html

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