OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取z终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。
该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米，可探测到-80dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。
特点：
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超高采样分辨率和定位精度
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采样分辨率1 μm
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回损测量范围-10 dB~90 dB
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可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境
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可定制扫描测量长度
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支持多通道测量升级
应用：
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光纤微裂纹检测
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硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
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FA光纤阵列链路性能检测
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光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
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