一、涂层测厚仪技术参数：
X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA
可测元素：Ti～U
检测器：正比计数管
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度20mm
二、涂层测厚仪标准配置：
X射线管，正比记数盒，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。
三、应用领域
金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。
四、涂层测厚仪产品特点：
超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
易于使用，一键操作，即可获得克拉等级及组成成份的分析结果
有助于识别镀层成分的创新型功能
机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室
按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的精确结果
使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心
Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享
有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用
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